中部大学附属三浦記念図書館

半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ

荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著. -- 丸善プラネット, 2013. <TB00183017>
登録タグ:
登録されているタグはありません
書誌URL:

所蔵一覧 1件~1件(全1件)

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 3F/和図書5 549.8/A 62 20130007300     0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 3F/和図書5
請求記号 549.8/A 62
資料ID 20130007300
禁帯出区分  
状態  
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ / 荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著
ハンドウタイ ブヒン ノ シンライセイ : コウシンライカ ノ レキシ ト フィールド データ
出版・頒布事項 東京 : 丸善プラネット
出版・頒布事項 東京 : 丸善出版(発売) , 2013.8
形態事項 viii, 344p : 挿図 ; 30 cm
巻号情報
ISBN 9784863451728
注記 その他の著者: 中野好典, 植木武美, 平岡一則, 小川清, 福田光男, 久慈憲夫, 水沢武, 嶋屋正一, 山口力
注記 参考文献: p337
学情ID BB13216182
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 荒井, 英輔||アライ, エイスケ <AU00032625>
著者標目リンク 塩野, 登(1947-)||シオノ, ノボル <AU00032626>
著者標目リンク 岩根, 眼藏
イワネ, ガンゾウ <>