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中部大学附属三浦記念図書館
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半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ
荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著. -- 丸善プラネット, 2013. <TB00183017>
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半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ
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10件
20件
50件
100件
No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
禁帯出区分
状態
返却予定日
予約
0001
図書館
3F/和図書5
549.8/A 62
20130007300
0件
No.
0001
巻号
所蔵館
図書館
配置場所
3F/和図書5
請求記号
549.8/A 62
資料ID
20130007300
禁帯出区分
状態
返却予定日
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0件
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書誌詳細
標題および責任表示
半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ / 荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著
ハンドウタイ ブヒン ノ シンライセイ : コウシンライカ ノ レキシ ト フィールド データ
出版・頒布事項
東京 : 丸善プラネット
出版・頒布事項
東京 : 丸善出版(発売) , 2013.8
形態事項
viii, 344p : 挿図 ; 30 cm
巻号情報
ISBN
9784863451728
注記
その他の著者: 中野好典, 植木武美, 平岡一則, 小川清, 福田光男, 久慈憲夫, 水沢武, 嶋屋正一, 山口力
注記
参考文献: p337
学情ID
BB13216182
本文言語コード
日本語
著者標目リンク
荒井, 英輔||アライ, エイスケ <AU00032625>
著者標目リンク
塩野, 登(1947-)||シオノ, ノボル <AU00032626>
著者標目リンク
岩根, 眼藏
イワネ, ガンゾウ <>
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