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はじめてのデバイス評価技術

二川清著. -- 第2版. -- 森北出版, 2012. <TB00166350>
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はじめてのデバイス評価技術

二川清著. -- 第2版. -- 森北出版, 2012. <TB00166350>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 3F/和図書５ 549.8/N 73 20120008110 　 　 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 3F/和図書５
請求記号 549.8/N 73
資料ID 20120008110
禁帯出区分 　
状態 　
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 はじめてのデバイス評価技術 / 二川清著
ハジメテ ノ デバイス ヒョウカ ギジュツ
版事項 第2版
出版・頒布事項 東京 : 森北出版 , 2012.9
形態事項 xi, 179p : 挿図 ; 22cm
巻号情報
ISBN 9784627774421
注記 初版: 工業調査会, 2000年刊
注記 参考文献・引用文献: p169-175
学情ID BB10206954
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 二川, 清(1949-)||ニカワ, キヨシ <AU00017521>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
分類標目 電子工学 NDC9:549.8
件名標目等 半導体||ハンドウタイ
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