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異種材料界面の測定と評価技術 : Evaluation technology for interfacial phenomena

石井淑夫監修. -- テクノシステム, 2012. <TB00160885>
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異種材料界面の測定と評価技術 : Evaluation technology for interfacial phenomena

石井淑夫監修. -- テクノシステム, 2012. <TB00160885>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 3F/和図書５ 501.4/I 84 20120001863 　 　 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 3F/和図書５
請求記号 501.4/I 84
資料ID 20120001863
禁帯出区分 　
状態 　
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 異種材料界面の測定と評価技術 : Evaluation technology for interfacial phenomena / 石井淑夫監修
イシュ ザイリョウ カイメン ノ ソクテイ ト ヒョウカ ギジュツ
出版・頒布事項 東京 : テクノシステム , 2012.3
形態事項 15, 562p : 挿図 ; 27cm
巻号情報
ISBN 9784924728653
注記 引用・参考文献: 各節末
学情ID BB08905848
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 石井, 淑夫||イシイ, トシオ <AU00012439>
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