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Optics of charged particle analyzers

Mikhail Yavor. -- Elsevier, 2009. -- (Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 157). <TB00121824>
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Mikhail Yavor. -- Elsevier, 2009. -- (Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 157). <TB00121824>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 B1F/洋図書５ 549.05/A 16/157 20090005618 　 　 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 B1F/洋図書５
請求記号 549.05/A 16/157
資料ID 20090005618
禁帯出区分 　
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返却予定日
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書誌詳細

標題および責任表示 Optics of charged particle analyzers / Mikhail Yavor
出版・頒布事項 Amsterdam ; Tokyo : Elsevier , 2009
形態事項 xxiii, 381 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 9780123747686
書誌構造リンク Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes <TY00063154> v. 157//a
注記 Includes bibliographical references (p. 351-371) and index
学情ID BA90973345
本文言語コード 英語
著者標目リンク Yavor, Mikhail <>
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