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Aberration-corrected electron microscopy

edited by Peter W. Hawkes. -- Elsevier Academic Press, 2008. -- (Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 153). <TB00112358>
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Aberration-corrected electron microscopy

edited by Peter W. Hawkes. -- Elsevier Academic Press, 2008. -- (Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes ; v. 153). <TB00112358>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 B1F/洋図書５ 549.05/A 16/153 20080009976 　 　 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 B1F/洋図書５
請求記号 549.05/A 16/153
資料ID 20080009976
禁帯出区分 　
状態 　
返却予定日
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書誌詳細

標題および責任表示 Aberration-corrected electron microscopy / edited by Peter W. Hawkes
出版・頒布事項 Amsterdam ; Tokyo : Elsevier Academic Press , 2008
形態事項 xv, 538 p., [32] p. of plates : ill. (some col.) ; 24 cm
巻号情報
ISBN 9780123742209
書誌構造リンク Advances in imaging and electron physics / edited by Peter W. Hawkes <TY00063154> v. 153//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA88259270
本文言語コード 英語
著者標目リンク Hawkes, P. W. (Peter William), 1937- <>
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