中部大学附属三浦記念図書館
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Semiconductor material and device characterization

Dieter K. Schroder. -- 3rd ed. -- IEEE Press, 2006. <TB00173205>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 B1F/洋図書５ 549.8/Sc 7 20130002241 　 　 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 B1F/洋図書５
請求記号 549.8/Sc 7
資料ID 20130002241
禁帯出区分 　
状態 　
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
版事項 3rd ed
出版・頒布事項 [S.l.] : IEEE Press
出版・頒布事項 Hoboken, N.J. : Wiley-Interscience , c2006
形態事項 xv, 779 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 9780471739067
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA76086798
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Schroder, Dieter K. <AU00023649>
分類標目 LCC:QC611
分類標目 DC21:621.3815/2
分類標目 科学技術 NDLC:MC151
件名標目等 Semiconductors
件名標目等 Semiconductors -- Testing
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