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X-ray spectrometry : recent technological advances

edited by Kouichi Tsuji, Jasna Injuk, René Van Grieken ; : hbk. -- John Wiley, 2004. <TB00064425>
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X-ray spectrometry : recent technological advances

edited by Kouichi Tsuji, Jasna Injuk, René Van Grieken ; : hbk. -- John Wiley, 2004. <TB00064425>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 B1F/洋図書４ 425.5/Ts 41 20040010699 　 　 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 B1F/洋図書４
請求記号 425.5/Ts 41
資料ID 20040010699
禁帯出区分 　
状態 　
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 X-ray spectrometry : recent technological advances / edited by Kouichi Tsuji, Jasna Injuk, René Van Grieken
出版・頒布事項 Chichester, West Sussex, England ; Hoboken, NJ, USA : John Wiley , c2004
形態事項 xii, 603 p. ; 25 cm
巻号情報
巻次等 : hbk
ISBN 047148640X
注記 Includes bibliographical references and index
注記 HTTP:URL=http://www.loc.gov/catdir/description/wiley0310/2003057604.html Information=Publisher description
注記 HTTP:URL=http://www.loc.gov/catdir/toc/wiley032/2003057604.html Information=Table of contents
学情ID BA66651080
本文言語コード 英語
著者標目リンク Tsuji, Kouichi <>
著者標目リンク Injuk, Jasna <>
著者標目リンク Grieken, R. van (René) <AU00062464>
分類標目 LCC:QD96.X2
分類標目 NLM:QD 96.X2
分類標目 DC22:543/.62
件名標目等 X-ray spectroscopy
件名標目等 Chemistry, Analytical
件名標目等 Spectrometry, X-Ray Emission -- instrumentation
件名標目等 Spectrometry, X-Ray Emission -- methods
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