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Transmission electron microscopy and diffractometry of materials

Brent Fultz, James Howe. -- 2nd ed. -- Springer, 2002. -- (Physics and astronomy online library). <TB00028147>
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Transmission electron microscopy and diffractometry of materials

Brent Fultz, James Howe. -- 2nd ed. -- Springer, 2002. -- (Physics and astronomy online library). <TB00028147>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 研究室 90/90477 530 20020006973 問い合わせ 　 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 研究室
配置場所 90/90477
請求記号 530
資料ID 20020006973
禁帯出区分 問い合わせ
状態 　
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe
版事項 2nd ed
出版・頒布事項 Berlin ; Tokyo : Springer , c2002
形態事項 xxi, 748 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 3540437649
書誌構造リンク Physics and astronomy online library <>//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA59086328
本文言語コード 英語
ISSN 14392674
著者標目リンク *Fultz, B. <>
著者標目リンク Howe, James M., 1955- <>
分類標目 LCC:TA417.23
分類標目 DC21:620.1/1299
件名標目等 Materials -- Microscopy
件名標目等 Transmission electron microscopy
件名標目等 X-ray diffractometer
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