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二次イオン質量分析法

日本表面科学会編. -- 丸善, 1999. -- (表面分析技術選書). <TW00218008>
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二次イオン質量分析法

日本表面科学会編. -- 丸善, 1999. -- (表面分析技術選書). <TW00218008>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 3F/和図書４ 428.42/N 77 04512553 　 　 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 3F/和図書４
請求記号 428.42/N 77
資料ID 04512553
禁帯出区分 　
状態 　
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 二次イオン質量分析法 / 日本表面科学会編
ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
出版・頒布事項 東京 : 丸善 , 1999.7
形態事項 vii, 195p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4621046233
書誌構造リンク 表面分析技術選書||ヒョウメン ブンセキ ギジュツ センショ <>//a
学情ID BA42291413
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 日本表面科学会
ニホン ヒョウメン カガクカイ <>
分類標目 物性物理学 NDC8:428.4
分類標目 物性物理学 NDC9:428.4
件名標目等 表面(工学上)||ヒョウメン(コウガクジョウ)
件名標目等 イオンビーム||イオンビーム
件名標目等 質量分析||シツリョウブンセキ
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