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JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例

坂巻佳壽美著. -- CQ出版, 1998. -- (I/F essence). <TW00212790>
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JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例

坂巻佳壽美著. -- CQ出版, 1998. -- (I/F essence). <TW00212790>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 3F/和図書５ 549.8/Sa 32 04516877 　 　 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 3F/和図書５
請求記号 549.8/Sa 32
資料ID 04516877
禁帯出区分 　
状態 　
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 JTAGテストの基礎と応用 : 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例 / 坂巻佳壽美著
JTAG テスト ノ キソ ト オウヨウ : シンジダイ ノ デンシ カイロ キバン ノ テスト シュホウ ト サマザマナ オウヨウ ジレイ
出版・頒布事項 東京 : CQ出版 , 1998.12
形態事項 182p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4789836827
書誌構造リンク I/F essence||I/F essence <>//a
注記 参考文献: p180
学情ID BA39259718
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 坂巻, 佳寿美(1950-)
サカマキ, カズミ <>
分類標目 電子工学 NDC8:549.7
分類標目 電子工学 NDC9:549.7
件名標目等 集積回路||シュウセキカイロ
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