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Speckle metrology

edited by Rajpal S. Sirohi. -- Marcel Dekker Inc., 1993. -- (Optical engineering ; v. 38). <TY00058470>
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Speckle metrology

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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 B1F/洋図書５ 501.55/Si 9 03137872 　 　 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 B1F/洋図書５
請求記号 501.55/Si 9
資料ID 03137872
禁帯出区分 　
状態 　
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Speckle metrology / edited by Rajpal S. Sirohi
出版・頒布事項 New York : Marcel Dekker Inc. , c1993
形態事項 xiii, 551 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0824789326
書誌構造リンク Optical engineering <> v. 38//a
学情ID BA20564159
本文言語コード 英語
著者標目リンク Sirohi, R. S. <>
分類標目 LCC:TA417.2
分類標目 DC:620.1/127
件名標目等 Non-destructive testing
件名標目等 Speckle metrology
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