中部大学附属三浦記念図書館

Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices

edited by Jay N. Zemel. -- Plenum Press, 1979. -- (NATO advanced study institutes series ; Series B . Physics ; v. 46). <TB00158168>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 研究室 90/90709 549.806/N 96/78 05354536 問い合わせ   0件
No. 0001
巻号
所蔵館 研究室
配置場所 90/90709
請求記号 549.806/N 96/78
資料ID 05354536
禁帯出区分 問い合わせ
状態  
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 Nondestructive evaluation of semiconductor materials and devices / edited by Jay N. Zemel
出版・頒布事項 New York : Plenum Press , c1979
形態事項 xi, 782 p. : ill. ; 26 cm
巻号情報
ISBN 0306402939
書誌構造リンク NATO advanced study institutes series <TB00158167> Series B . Physics ; v. 46//a
注記 Lectures presented at the NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluationof Semiconductor Materials and Devices, held at the Villa Tuscolano, Italy,September 19-29, 1978
注記 Includes bibliographical references and index
注記 "Published in cooperation with NATO Scientific Affairs Division."
学情ID BA13158566
本文言語コード 英語
著者標目リンク *NATO Advanced Study Institute on Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices <AU00009780> (1978 : Villa Tuscolano, Italy)
著者標目リンク Zemel, Jay N. <AU00009781>
分類標目 LCC:TK7871.85
分類標目 DC:621.3815/2/028
件名標目等 Semiconductors -- Testing -- Congresses