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Atom-probe field ion microscopy and its applications

Toshio Sakurai, A. Sakai, H.W. Pickering. -- Academic Press, 1989. -- (Advances in electronics and electron physics. Supplement ; 20). <TY00037791>
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Atom-probe field ion microscopy and its applications

Toshio Sakurai, A. Sakai, H.W. Pickering. -- Academic Press, 1989. -- (Advances in electronics and electron physics. Supplement ; 20). <TY00037791>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 B1F/洋図書５ 549.05/A 16s/20 01761269 　 　 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 B1F/洋図書５
請求記号 549.05/A 16s/20
資料ID 01761269
禁帯出区分 　
状態 　
返却予定日
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書誌詳細

標題および責任表示 Atom-probe field ion microscopy and its applications / Toshio Sakurai, A. Sakai, H.W. Pickering
出版・頒布事項 Boston : Academic Press , c1989
形態事項 vii, 299 p : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0120145820
書誌構造リンク Advances in electronics and electron physics. Supplement <> 20//a
注記 Bibliography: p. 275-292
注記 Includes index
学情ID BA06995219
本文言語コード 英語
著者標目リンク Sakurai, Toshio, 1926- <>
著者標目リンク 桜井, 敏雄(1926-) <>
著者標目リンク サクライ, トシオ <>
著者標目リンク Sakai, A. <>
著者標目リンク Pickering, H. W. <>
分類標目 NDC:549
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